X射线成像技术长期面临一个难题：如何在增强图像信号的同时，不牺牲细节和清晰度。传统方法往往需要在探测器厚度、光信号强度和空间分辨率之间进行权衡。

如今，来自中国重庆大学、中国电子科技集团公司第二十六研究所和美国史蒂文斯理工学院的研究团队，开发出一种新型纳米结构材料，成功提高了X射线探测器的光收集效率，同时保留了较高的图像分辨率。